电子器件

两箱式温度冲击试验箱符合标准

  两箱式温度冲击试验箱分为高温室和低温室,其箱体结构设计采用独特的断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。在试验过程中我们也许会碰到试验箱提篮不工作,出现此类现象的原因是什么呢?

  1、温度冲击试验箱提蓝卡死,打开试验箱门,目测提篮是否有卡住现象;

  2、气动电磁阀损坏,导致气缸气路无法切换,提篮只能停留在起始位置,气缸内部不密封;

  3、外部电源未供气或调压阀损坏;

  4、钢丝绳松动或断裂。

  两箱式温度冲击试验箱符合标准:

  GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温

  GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温

  GB/T10592-2008高低温箱技术条件

  GJB150.5A-2009军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验

  GJB360A-1996方法107温度冲击试验的要求

  GJB360.7-1987电子及电气元件试验方法温度冲击试验