电子器件

高温试验箱可靠性环境试验国家标准总结

  高温试验箱军用/民用可靠性环境试验国家标准总结:

  GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》

  GJB150.3-86《军用设备环境试验方法高温试验》

  MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》

  GJB4.2-83《舰船电子设备环境试验高温试验》

  GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法108高温寿命试验

  MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》

  GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》4.7.28高温试验

  GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》

  MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》

  GB/T2423.2-2001《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温》

  SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.1高温负荷试验

  SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.2高温贮存试验

  GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》

  RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法

  注:高温试验箱用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。