IC卡动态弯曲双向扭试验机的适用及技术参数介绍

　　IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

　　本仪器针对性IC卡在国标GB/T16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验；完全符合以上标准。

　　技术参数

　　扭曲度：±15°±1°雙向d=86mm

　　正反向各15°，总扭曲角度30°

　　測試周期：1~9999次

　　測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5Hz

　　长边位移量为20mm（+0.00mm，-1mm）

　　长边小位移量为2mm±0.50mm

　　短边位移量为10mm（+0.00mm，-1mm）

　　长边小位移量为1mm±0.50mm

　　電壓：AC220V±5%

　　外形尺寸：L670XW380XH220

　　功率：35W

　　儀器重量：70kg

　　使用方法

　　（1）仪器接通电源，将计数器，数值调到三个“0”，放上标准卡。

　　（2）按扭曲启动按扭（此时只有点功能），看摇摆指针是否在±15°之间作往复运动。

　　（3）按下弯曲启动按扭，使弯曲卡位处于距离远，看指针分别在某一刻度，或者用卡尺测量台面到卡的高度；

　　然后再按下弯曲启动按扭，使得弯曲卡位处于距离近，看指针分别在另一刻度，或者用卡尺测量台面到卡顶端高度，两高度之差分别是10mm和20mm。