显微颗粒图像分析仪的相关适用介绍

　　显微颗粒图像分析仪测试原理：通过对颗粒数量和每个颗粒所包含的像素数量的统计，计算出每个颗粒的等圆面积和等球体积；

　　从而得到颗粒的等圆面积直径、等球体积直径以及长径比等，再对所有的颗粒进行统计，从而得到粒度分布等信息。

　　显微颗粒图像分析仪适用领域：

　　1、研磨材料：金刚石、碳化硅、碳化硼、白刚玉、氧化铈等。

　　2、电池材料：球形石墨、钴酸锂等。

　　3、用于验证其他粒度测试的手段和方法。

　　使用颗粒图像分析时应注意的事项：

　　⒈取放颗粒图像分析时动作一定要轻，切忌震动和暴力，否则会造成光轴偏斜而影响观察，而且光学玻璃也容易损坏。

　　⒉由于物镜的螺丝口容易损伤，安装物镜时要特别小心；

　　即先向左方倒转一小段，凹凸双方吻合后再向右方旋转，不要转的太紧，轻轻捻到头，再稍紧即可。

　　⒊鏡检标本应严格按照操作程序进行，观察时要从低倍镜开始，看清标本后再转用高倍镜、油镜。

　　⒋使用油镜时一定要在盖玻片上滴油后才能使用。

　　油镜使用完后，应立即将镜头、盖玻片上的油擦干净，否则干后不易擦去，以致损伤镜头和标本。

　　但应注意二甲苯用量不可过多，否则，物镜中的树胶溶解，透镜歪斜甚至脱落，盖玻片移动甚至连同标本一起融掉。

　　⒌颗粒图像分析使用时不可用手摸光学玻璃部分，如需擦拭应严格按照光学部件擦拭办法。

　　⒍颗粒图像分析使用的盖玻片和载玻片不能过厚或过薄。

　　标准的盖玻片为0.17±0.02毫米，载玻片为1.1±0.04毫米。过厚或过薄将会影响显微镜成像及观察。