PCT未饱和蒸煮试验箱的特点介绍

　　PCT高压加速老化测试设备适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板；

　　多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。

　　测试其制品的耐厌性，气密性。

　　测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

　　加速老化寿命试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

　　产品特点：

　　1、采用进口耐高温电磁阀双路结构，降低了使用故障率；

　　2、独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏；

　　3、门锁省力结构，解决代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

　　4、试验前排冷空气；试验中排冷空气设计（试验桶内空气排出）提高压力稳定性、再现性；

　　5、超长效实验运转时间，长时间实验机台运转1000小时；

　　6、水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护；

　　7.tank耐压设计，箱体耐压力（140℃）2.65kg，符合水压测试6kg；

　　8、二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置；

　　9、安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮；

　　10、全触控式控制器，支持U盘导出历史记录。

　　性能：

　　1设定温度：+100℃～+132℃（饱和蒸气温度）

　　2湿度范围：100%蒸气湿度

　　3湿度控制稳定度：±1%RH

　　4使用压力：1.2～2.89kg（含1atm）

　　5时间范围：0Hr～9999Hr

　　6加压时间：0.00Kg～1.04Kg/cm2约45分

　　7温度波动均匀度：±0.5℃

　　8温度显示精度：0.1℃

　　9压力波动均匀度：±0.02Kg

　　10湿度分布均度：±5%RH