涂层测厚仪为什么要选择带有统计功能

　　涂层测厚仪是一种专门用于各种漆膜厚度无损检测的便携式仪器，如果您对各种涂层测厚仪有过研究会发现；

　　有些涂层测厚仪只能单一测量单次数值，而有些涂层测厚仪带有快速测量功能；

　　一次可以检测几个数值，然后对这些多次测量的数值进行统计分析？

　　那你知道为什么要对测量的涂层厚度进行统计吗？统计有什么作用？

　　涂装行业的人员都知道，测量涂层厚度时，多数测量都会受到随机因素的影响，比如材料表面粗糙度；

　　即使涂装后，也会因为表面脏污，灰尘等各种因素影响；

　　而且在多数涂层工艺中，都会出现不对称的分布情况，因此单一值无法描述测量实体真正的定量属性。

　　需要进行重复测量并获得多个单独测量值。同时还需要用到统计方法，来对重复测量结果进行评估。

　　涂层测厚仪放入统计功能可得出大量测量值的平均值和相应的方差。

　　由此可计算出各值在平均值附近的分布情况。

　　通常，该分布会形成高斯钟形曲线一种可应用于众多技术工艺的曲线；

　　该曲线会显示基于测量值得到的可能的分布情况，通过统计分析，能够预测出整个过程中的涂层厚度。