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显微颗粒图像分析仪的相关适用介绍

  显微颗粒图像分析仪测试原理:通过对颗粒数量和每个颗粒所包含的像素数量的统计,计算出每个颗粒的等圆面积和等球体积;

  从而得到颗粒的等圆面积直径、等球体积直径以及长径比等,再对所有的颗粒进行统计,从而得到粒度分布等信息。

  显微颗粒图像分析仪适用领域:

  1、研磨材料:金刚石、碳化硅、碳化硼、白刚玉、氧化铈等。

  2、电池材料:球形石墨、钴酸锂等。

  3、用于验证其他粒度测试的手段和方法。

  使用颗粒图像分析时应注意的事项:

  ⒈取放颗粒图像分析时动作一定要轻,切忌震动和暴力,否则会造成光轴偏斜而影响观察,而且光学玻璃也容易损坏。

  ⒉由于物镜的螺丝口容易损伤,安装物镜时要特别小心;

  即先向左方倒转一小段,凹凸双方吻合后再向右方旋转,不要转的太紧,轻轻捻到头,再稍紧即可。

  ⒊鏡检标本应严格按照操作程序进行,观察时要从低倍镜开始,看清标本后再转用高倍镜、油镜。

  ⒋使用油镜时一定要在盖玻片上滴油后才能使用。

  油镜使用完后,应立即将镜头、盖玻片上的油擦干净,否则干后不易擦去,以致损伤镜头和标本。

  但应注意二甲苯用量不可过多,否则,物镜中的树胶溶解,透镜歪斜甚至脱落,盖玻片移动甚至连同标本一起融掉。

  ⒌颗粒图像分析使用时不可用手摸光学玻璃部分,如需擦拭应严格按照光学部件擦拭办法。

  ⒍颗粒图像分析使用的盖玻片和载玻片不能过厚或过薄。

  标准的盖玻片为0.17±0.02毫米,载玻片为1.1±0.04毫米。过厚或过薄将会影响显微镜成像及观察。