电子器件

X射线照相法探伤的实验设备及步鄹介绍

  X射线照相法探伤是利用X射线在物资中的衰减规律和射线能使某些物质产生荧光、光化作用的特点;

  将射线穿过被探工件照射到X射线胶片上使胶片感光,再经过暗室处理,得到反映工件内部情况的照相底片,利用这种底片在强光灯上分析,从而判断被探工件内部质量。

  实验设备及用品

  1、实验设备

  便携式X射线探伤机观片灯

  胶片衡温干燥箱黑度计

  2、实验用品

  评片尺、像质计、X射线胶片、暗袋、增感屏、铅字标记、

  显影药水、定影药水、洗片夹等

  实验步骤(依据GB3323-87)

  1、配制显影、定影药水(一般应提前24小时配制),做好暗室准备。

  2、将X射线胶片,增感屏按确定的增感方式在暗室中装入暗袋。

  3、选取一对接平板焊缝或对接钢管焊缝试件,并按标准规定在试件指定地方,放置定位标记、识别标记、像质计。

  如拍平板对接焊缝时,根据拍片厚度按表一选用象质计,按图一布置各种标记。